M2P 2023

Quality Control and Anomaly Identification in Manufacturing: Applying Functional Statistics to the Case of Complex Shapes

  • Scimone, Riccardo (Politecnico di Milano)
  • Taormina, Tommaso (Politecnico di Milano)
  • Colosimo, Bianca Maria (Politecnico di Milano)
  • Grasso, Marco Luigi (Politecnico di Milano)
  • Menafoglio, Alessandra (Politecnico di Milano)
  • Secchi, Piercesare (Politecnico di Milano)

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