Quality Control and Anomaly Identification in Manufacturing: Applying Functional Statistics to the Case of Complex Shapes
*R. Scimone (Politecnico di Milano), T. Taormina (Politecnico di Milano), B. Colosimo (Politecnico di Milano), M. Grasso (Politecnico di Milano), A. Menafoglio (Politecnico di Milano), P. Secchi (Politecnico di Milano)